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應(yīng)用設(shè)計

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計算成像助力2.5D缺陷檢測

計算成像助力2.5D缺陷檢測

機器視覺是一個新興且不斷迭代發(fā)展的行業(yè),近年來行業(yè)內(nèi)陸續(xù)推出了不同角度照明方案、分時頻閃成像方案、光譜成像、3D成像等方案,仍然存在難以檢測的缺陷類型。如凹凸特征檢測并有效識別其特征大小,棱邊缺陷檢測,有感、無感劃痕區(qū)分,兼容所有特征的檢測等。這些難題,成為了行業(yè)內(nèi)一直難以攻克的問題。 針對這些挑戰(zhàn),沃德普推出了計算成像系統(tǒng),其中包含了悟空相位成像系統(tǒng)(圖(1))和線掃光度立體成像系統(tǒng)(圖(2))。這兩個系統(tǒng)均利用特殊光場照明,并利用圖像信息增強的新技術(shù),助力解決以上難題。

悟空相位成像系統(tǒng),通過拍攝獲取多張圖像序列,每個都有不同的照明或光學(xué)配置,從每個圖像中提取數(shù)據(jù)并進行組合,獲取圖像中任意位置特征均呈現(xiàn)出來的圖像,并進行計算成像。悟空相位成像系統(tǒng)可兼容不同方向的瑕疵成像、及提供2.5D缺陷成像,實現(xiàn)一次采集,完成待檢產(chǎn)品的不同形態(tài)瑕疵呈現(xiàn),可以應(yīng)用在反光產(chǎn)品的表面瑕疵高速檢測中。

線掃光度立體成像系統(tǒng),是指捕獲多個圖像,利用圖像處理生成更好的輸出圖像,具有單一鏡頭圖像無法提供或兼容的特征。該方案的原理是用重建出物體表面的法向量,以及物體不同表面點的反射率來復(fù)原陰影部分,因此只需要采集四張由不同方向的光照射物體的圖像。該方案主要用于檢測非反光產(chǎn)品表面2.5D缺陷,支持高速在線檢測。

圖(1)悟空相位成像系統(tǒng)示意圖

圖(2)線掃光度立體成像系統(tǒng)示意圖

本文主要介紹悟空相位成像系統(tǒng),如下圖(3)為常規(guī)方案拍攝劃痕、臟污及氣泡的成像效果,面對細微瑕疵,難以對特征進行處理和提取。圖(4)為悟空相位成像系統(tǒng)提供的效果圖,可以呈現(xiàn)上述難以成像的特征,簡化后期的算法處理難度。

圖(3) 常規(guī)方案

圖(4) 相位方案

線掃檢測中,通過相位線陣光源輸出高頻信號給線掃相機,將圖像數(shù)據(jù)直接傳至圖像預(yù)處理器,并處理獲得對應(yīng)的八張相位原圖和六張預(yù)處理效果圖。六張預(yù)處理器效果圖包含形狀圖1、形狀圖2、鏡面反射圖、光澤比圖、漫反射圖、標準圖,可分別對圖像具有2.5D凹凸的特征、細小劃傷、臟污異物、產(chǎn)品輪廓定位進行提取。

悟空相位成像系統(tǒng)提供圖像調(diào)節(jié)功能,可對預(yù)處理后的圖像進行二次調(diào)節(jié),利于對特征對比度或輪廓的增強,如下圖5~7所示。

圖(5)相位原圖X1

圖(6)形狀圖1-調(diào)參前

圖(7)形狀圖1-調(diào)參后

此外,該系統(tǒng)還可以區(qū)分有感和無感的特征,即有深度和無深度的信息,將背景干擾信息過濾,提取用戶所需的特征,如下圖8~10所示。

圖(8)相位原圖X1

圖(9)相位原圖Y1

圖(10)形狀圖1

面對被測產(chǎn)品表面不夠光滑,或具有反光方向性的情況,相位成像系統(tǒng)還可通過調(diào)節(jié)光源角度、光斑正弦性周期、亮度來適配效果,如下圖11~12。

圖(11)相位常規(guī)方案-無相位效果,預(yù)處理效果不佳

圖(12)相位調(diào)整方案-有相位效果,可輸出效果

  目前,該系統(tǒng)主要應(yīng)用于鋰電的鋁殼電池、藍膜電池的劃痕和氣泡檢測;產(chǎn)品為高反光產(chǎn)品的凹凸點、壓痕檢測,推薦使用線掃相位成像方式;如果產(chǎn)品是磨砂等非光滑面,推薦使用線掃光度立體成像方式,或其它檢測方式。  總的來說,無論是悟空相位成像系統(tǒng)還是線掃光度立體成像系統(tǒng),都是為了解決機器視覺行業(yè)中的難題而推出的解決方案。通過這些先進的技術(shù)和設(shè)備,沃德普可以更好地應(yīng)對各種復(fù)雜的檢測任務(wù),提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

審核編輯(
王靜
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